探针台(探针台有哪些类型?具有什么优点和作用?)

思拓知识网 2023-10-27 14:00:27 工业 0

本文目录一览:

  • 1、探针台有哪些类型?具有什么优点和作用?
  • 2、cascade探针台介绍
  • 3、低温探针台用途
  • 4、探针台如何工作?
  • 5、探针台的探针台简介
  • 探针台有哪些类型?具有什么优点和作用?

    探针台按照操桐裤作模式来进行区分的话,可以被分成手动、全自动以及半自动等,顾名思义手动类型的产品,需要结合人员操作来使用,全自动或者半自动的产品,则更加节约操作人员的时间。
    探针台的应用行业有许多,常见的包括半导体、光电以及集成电路等行业,半导体企业不仅有效促进了经济发展,而且还提供了大量工作岗位,有很多从事半导体产品研发和生产的企业,每年都需要招聘大量人才,樱轮乱集成电路行业则与电子产品脊档的生产有较大关联,包括手机以及电脑等。
    探针台的优点主要是表现在,能够确保相关产品研发的质量,并且还起到了有效缩短研发时间和资金成本的作用,从事产品研发工作的人们就会懂得,产品研发需要借助相关技术资源,这样会具有更加可靠和省时省力的优势,可以缩减器件的制作工艺成本。
    Instec探针台的质量可靠性能表现出众,为众多类型的企业节约人力和物力成本,是受到行业人士好评与认可的技术产品。

    cascade探针台介绍

    CASCADE探针台是一种用于电子与通信技术领域的电子测量仪器,于2009年12月18日启用。

    探针台主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。 广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发,旨档辩在确保质量及可靠性,并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。


    探针测试台x-y工作台的芹蠢祥分类

    纵观国内外的自动探针测试台在功能及组成上大同小异,即主要由x-y向工作台,可编程承片台、探卡/探卡支架、打点器、探边器、操作手柄等组成,并配有与测试仪(TESTER)相连的通讯接口。

    但如果按其x-y工作台结构的不同可为两大类,即:以美国EG公司为代表的平面电机型x-y工作台(又叫磁性气浮工嫌搏作台)自动探针测试台和以日本及欧洲国家生产的采用精密滚珠丝杠副和直线导轨结构的x-y工作台型自动探针测试台。

    由于x-y工作台的结构差别很大,所以其使用维护保养不可一概而论,应区别对待。

    低温探针台用途

    高低温真空探针台可以对器件进行非破坏性的测试。

    可以对材料或器件的电学特性测量、光电特性测量、参数测量、姿庆highZ测量、DC测量、RF测量和微波特性测量提供一个测试平台。

    优测国芯的高低温真空探台该设备已经成为测量纳米电子材料(碳纳米管、晶体管、单个电子晶体管、分子电子材料、纳米线),量子线、点、量子隧道,单个电子隧道,基础半导此腔体器件、包括组织、LEDs、稀磁半导体等性能的重要手段。

    一台设备可以供整个实验室使用,能够大幅度节约建设成本,而且一次投入可以为科研和教学服务多年,具有很高的投资效益。

    探针和引物的区别:

    一、两者的用途不同:

    1、引物设计的用途:用于PCR扩增技术。

    2、探针设计的用途:用于标记待定的核苷酸片断,用与特异性地、定量地检测核酸的量。

    二、两者的实质不同:

    1、引物设计的实质:一小段单链DNA或RNA,在核酸合成反应时,作为每个多核苷酸链进行延伸的出发点而起作用迹扒握的多核苷酸链。

    2、探针设计的实质:在紫外-可见-近红外区有特征荧光,并且其荧光性质(激发和发射波长、强度、寿命、偏振等)可随所处环境的性质,如极性、折射率、粘度等改变而灵敏地改变的一类荧光性分子。

    探针台如何工作?

    探针台可以固定晶圆或芯片,并精确定位待测物。手动探针台的使用者将探针臂和探针安装到操纵器中,并使用显微锋型镜伍仔将探针尖端放置到待测物上的正确位置。一旦所有探针尖端都被设置在正确的位置,就可以对待测物进行测试。


    DN增强型探针台-优测国芯


    DN增强型探针台银橘猜-优测国芯

    探针台的探针台简介

    探针台从操作上来区分有:手动,半自动,全自动
    从功能上来区分有:温控探针台,真空探针台(超低温探针台),RF探针台,LCD平板探针台,霍尔效应探针台,表面电阻率探针台 根据客户需求定制
    chuck尺寸:4*4 6*6 8*8 12*12 (可选)
    X-Y移动行程:4*4 6*6 8*8 12*12(可选)
    chuck Z轴方向升降10mm(选项)方便探针与样品快速分离
    显微镜:金相显微镜、体式显微镜、单筒显贺桐微镜(可选)
    显微镜移动方式:立柱环绕型、移动平台型、龙门结构型(可选)
    探针座:有0.7um、2um、10um精度可选,磁性吸附带磁力开关
    可搭配Probe card测试
    适用领域:晶圆厂、研究所、高校等 chuck尺寸800mm/600mm
    X,Y电动移动行程200mm/150mm
    chuck粗调升降9mm,微调升降16mm
    可搭配MITUTOYO金相显微镜或者AEC实体显微镜
    针座摆放个数6~8颗
    显微镜X-Y-Z移动范围2x2x2
    可搭配Probe card测试
    适用领域:8寸/6寸Wafer、IC测试之产品 chuck尺寸1200mm,平坦度土1u(不锈钢或镀金)
    X,Y电动移动行程300mm x 300mm
    chuck粗调升降9mm,微调升降16mm,微调精度土1u
    可搭配MITUTOYO晶像显微镜或者AEC实体显微镜
    针座摆放个数8~枝虚12颗
    显微镜X-Y-Z移动范围2“x2”x2“
    材质:花岗岩台面+不锈钢
    可搭配Probe card测试
    适用领域:12寸Wafer、禅搭坦IC测试之产品 机械手臂取放片
    电动、键入坐标寻位置
    量测尺寸(mm):1800x1600、1300x1200、1200x1000 白炽灯或者LED整面背光
    TFT元件特性、Driver IC量测分析
    机台尺寸(mm):800x600、500x400、300x300 高频测试探头GSG / GS / SG
    频率10GHZ / 40GHZ / 50GHZ / 67GHZ
    机台尺寸同LCD 探针台 量测软体:
    I-V /C-V Curve, Isc, Voc,
    Pmax, Imax, Vmax, RS, Fill Factor,
    Power Convert Efficiency
    采用KEITHLEY Source Meter
    可加配任意品牌之太阳光模拟器

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    标签: 工业
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